一、什么是鍍層測(cè)厚儀

鍍層測(cè)厚儀又稱(chēng)涂層測(cè)厚儀、涂鍍層測(cè)厚儀，是一種測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度的儀器，主要用于測(cè)量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層，其具有以下特點(diǎn)：

1、精度高：鍍層測(cè)厚儀的測(cè)量精度通常在±0.1μm范圍內(nèi)，可以滿(mǎn)足大多數(shù)表面鍍層或涂層的測(cè)量需求。

2、快速測(cè)量：鍍層測(cè)厚儀可以在短時(shí)間內(nèi)快速測(cè)量大范圍的表面，提高生產(chǎn)效率。

3、無(wú)損檢測(cè)：鍍層測(cè)厚儀不會(huì)對(duì)被測(cè)物體表面造成損傷，可以用于生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量控制和檢測(cè)。

4、操作簡(jiǎn)單：鍍層測(cè)厚儀操作簡(jiǎn)單，易于掌握，適合于不同領(lǐng)域的用戶(hù)使用。

二、鍍層測(cè)厚儀由什么組成

鍍層測(cè)厚儀一般由三部分組成：

1、傳感器：傳感器部分負(fù)責(zé)與物體表面接觸，并采集鍍層或涂層的電阻值、電導(dǎo)率或磁場(chǎng)強(qiáng)度等參數(shù)。

2、測(cè)量電路：測(cè)量電路部分將傳感器采集的信號(hào)進(jìn)行處理，計(jì)算出鍍層或涂層的厚度。

3、顯示單元：計(jì)算出的厚度將顯示在顯示單元上。

三、鍍層測(cè)厚儀原理是什么

鍍層測(cè)厚儀用于測(cè)量鍍層厚度，主要有三種原理：

1、磁吸型

永久磁鐵（測(cè)頭）與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系，這個(gè)距離就是覆層的厚度。利用這一原理制成測(cè)厚儀，只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大，就可進(jìn)行測(cè)量。

這種測(cè)厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼，接力簧，標(biāo)尺及自停機(jī)構(gòu)組成。磁鋼與被測(cè)物吸合后，將測(cè)量簧在其后逐漸拉長(zhǎng)，拉力逐漸增大。當(dāng)拉力剛好大于吸力，磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。

2、磁感應(yīng)型

采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。

利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度，一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上，如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。

3、電渦流型

高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。

采用電渦流原理的測(cè)厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量，如航天航空器表面、車(chē)輛、家電、鋁合金門(mén)窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過(guò)校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。