著錄信息
- 專利名稱：粒子形貌不規(guī)則的粉體材料的粒徑測定方法
- 專利類型：發(fā)明
- 申請?zhí)枺?/em>CN201410015067.2
- 公開(公告)號：CN103760074B
- 申請日：20140113
- 公開(公告)日：20160831
- 申請人：江蘇泛華化學科技有限公司
- 發(fā)明人：廖向陽,謝宏偉,王玲,倪曉光
- 申請人地址：212009 江蘇省鎮(zhèn)江新區(qū)丁卯經(jīng)十二路468號雙子樓A座
- 申請人區(qū)域代碼：CN321102
- 專利權人：江蘇泛華化學科技有限公司
- 洛迦諾分類：無
- IPC：G01N15/02
- 優(yōu)先權：無
- 專利代理機構：鎮(zhèn)江京科專利商標代理有限公司 32107
- 代理人：夏哲華
- 審查員：戴瑞烜
- 國際申請：無
- 國際公開(公告)：無
- 進入國家日期：無
- 分案申請：無
關鍵詞
粉體材料,粒子形貌,不規(guī)則,透射電鏡,下游用戶,分散狀況,檢測技術,粒徑測定,粒子測量,統(tǒng)計分析,懸浮液滴,應用效果,最大粒徑,超聲波,低倍率,高倍率,懸浮液,支持膜,放入,觀察,漿料,漿狀,料樣,取漿,取樣,銅網(wǎng),稀釋,拍照,分區(qū),并用,應用
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