著錄信息
- 專利名稱：基于AD模塊輸出的薄膜電弱點測試統(tǒng)計系統(tǒng)
- 專利類型：實用新型
- 申請?zhí)枺?/em>CN201420173170.5
- 公開(公告)號：CN203798968U
- 申請日：20140410
- 公開(公告)日：20140827
- 申請人：安徽銅峰電子股份有限公司
- 發(fā)明人：錢立文
- 申請人地址：244000 安徽省銅陵市經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)銅峰工業(yè)園
- 申請人區(qū)域代碼：CN340702
- 專利權(quán)人：安徽銅峰電子股份有限公司
- 洛迦諾分類：無
- IPC：G01R31/12
- 優(yōu)先權(quán)：無
- 專利代理機構(gòu)：合肥和瑞知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 34118
- 代理人：王挺
- 審查員：無
- 國際申請：無
- 國際公開(公告)：無
- 進入國家日期：無
- 分案申請：無
關(guān)鍵詞
輸出端,輸入端,采樣電路,輸出設(shè)備,漏電流,薄膜,連接,塑料薄膜,測試數(shù)據(jù),導(dǎo)電顆粒,數(shù)字信號,雙向通訊,質(zhì)量水平,線檢測,穿孔,積聚,分析
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